| Código | 25/MI/116 |
|---|---|
| Edición | 1 |
| Rama de conocimiento | INGENIERÍA Y ARQUITECTURA |
| Fechas | Desde el 30/06/2025 hasta el 19/09/2025 |
| Lugar | Centro de Investigación en Tecnologías de la Información y las Comunicaciones (CITIC-UGR) |
| Plazas | 20 |
| Horario |
Mañanas y tardes de lunes a viernes de 9h-13h y 16h-19h.
Horario (pdf) |
| Horas totales | 125 |
| Créditos | 5 |
Matrícula
| Solicitud de matrícula |
Matrícula abierta
Automatrícula online Información sobre el proceso de matrícula Si no dispone de cuenta de Oficina Virtual deberá acceder como "Invitado" |
|---|---|
| Fecha de matrícula | Desde el 12/05/2025 hasta el 22/06/2025 |
| Requisitos | Graduado/a dentro de la rama de conocimiento de ingeniería y arquitectura. |
| Observaciones | Información y matriculación: Servicio de Títulos Propios de la Escuela Internacional de Posgrado. Contacto: 958240744 eppropios@ugr.es. |
Presentación y objetivos
La microcredencial Structural and Electrical Characterization of Devices se presenta como una oportunidad única para los estudiantes interesados en el campo del estudio y caracterización con base experimental de dispositivos nanoelectrónicos. Sus objetivos principales son: - Comprender los principios teóricos fundamentales de la caracterización de dispositivos electrónicos a nano escala y materiales semiconductores. - Desarrollar habilidades prácticas en técnicas de caracterización eléctrica y estructural utilizando equipamiento de última generación en el laboratorio y la sala blanca. - Analizar el comportamiento de dispositivos nanoelectrónicos mediante herramientas avanzadas. - Fomentar la capacidad de investigar y resolver problemas complejos. El contenido incluye: Introducción a la caracterización. - Fundamentos y principios básicos de caracterización - Instrumentos y equipamiento Caracterización eléctrica de dispositivos nanoelectrónicos: - Técnicas de medición de corriente y voltaje - Técnicas de medición de capacidad y voltaje - Análisis de curvas I-V y C-V. Extracción de parámetros eléctricos - Caracterización estructural mediante medidas eléctricas Caracterización estructural de dispositivos nanoelectrónicos: - Fundamentos y principios básicos de cara - Instrumentos y equipamiento - Técnicas de microscopía electrónica (SEM, TEM) - Análisis de superficies y interfaces Forma parte del máster Innovative Microelectronic Circuit Design through CMOS Integration with Cutting-Edge Materials que surge a raíz de la cátedra +QCHIP dentro del Plan ¿PERTE CHIP. El máster está diseñado para proporcionar conocimientos avanzados y habilidades prácticas en la evaluación, análisis, diseño y simulación de dispositivos a nanoescala.
Contenido académico
- Introducción a la caracterización.
- Caracterización eléctrica de dispositivos nanoelectrónicos.
- Caracterización estructural de dispositivos nanoelectrónicos.
Profesorado
Precios públicos
Precio del curso: 0
Dirección y coordinación
- Carlos Navarro Moral (Director y Coordinador)
Organización
| Proponen |
Cátedra PERTE +QCHIP |
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Más información
| Dirección | Avda. Fuente Nueva s/n |
|---|---|
| Teléfono | 958248845 |
| nanoelectronics@ugr.es | |
| Web | https://qchip.ugr.es/ |
Nota: La realización del curso queda supeditada a la matriculación del número de estudiantes
previsto en el proyecto formativo y/o autorizado por la Escuela Internacional de Posgrado.